霍尔效应广泛应用于半导体材料的测试和研究中,例如应用霍尔效应测试半导体是电子型还是空穴型,研究半导体内载流子浓度的变化等.在霍尔效应实验中,如图所示,宽
ab为1 cm、长
ad为4 cm、厚
ae为1.0×10
-3cm的导体,沿
ad方向通有3 A的电流,当磁感应强度
B=1.5 T的匀强磁场垂直向里穿过
abcd平面时,产生了1.0×10
-5V的霍尔电压,(已知导体内定向移动的自由电荷是电子)则下列说法正确的是

A.在导体的上表面聚集自由电子,电子定向移动的速率v= ×10-3m/s |
B.在导体的前表面聚集自由电子,电子定向移动的速率v= ×103m/s |
C.在其它条件不变的情况下,增大ad的长度,可增大霍尔电压 |
D.每立方米的自由电子数为n=2.8×1029个 |